用于智能化工厂高速检测的共焦线传感器
借助 CHRocodile CLS 2.0,您能够以很高的速度测量高斜率和复杂的表面并且避免阴影。高速 3D 共焦线传感器几乎可以对所有材料,甚至是难以测量的材料
进行高度精 确的测量,并且分辨率很高。
其通用性确保能够合格完成各种测量。更重要的是,CHRocodile CLS 2.0 还有助于降低运营成本,节省时间,并确保工业 4.0 应用中的 100% 控制。
在半导体行业的应用: 引线键合检测、凸点测量、包装晶圆边缘检查、切割槽检查、缺陷、裸片裂缝、光掩膜光刻。
优势
——高度灵活 这种共焦线传感器的通用性可满足各种测量需求,例如,形貌结构和厚度测量、成分、分层、透明材料下的表面,以及复杂的几何形状。即使是难以测量的材料,例如漫反射、粗糙、彩色、抛光或反射表面,CHRocodile CLS 2.0 也能高速地进行准确测量。
——无阴影
CHRocodile CLS 2.0 的线性结构与入射光和反射光重叠。因此,在测量特定的几何形状时,不会出现任何问题,而三角反射测量则会出现阴影问题。
——易于更换的光学探头 该传感器配置了三个易于更换的光学探头,仅需轻松转换即可使用合适的探头。您可以选择*长达12 mm 线程的探头,用于大型部件的快速检测,或者选择优 质数值孔径的短线,用于测量高度倾斜的表面,例如测量智能手机、电池或手表显示玻璃的倒角。
——点密度高 CHRocodile CLS 2.0 以每行 1,200 个点的密度来扫描物体。结合与像素间距相当的横向高分辨率和良好的轴向分辨率,可以获得高密度的必要信息和优 质的测量结果。
传感器测量值
距离